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제품소개

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장치ㆍ계장 시스템

반도체 Aging 시험장치

분류

장치 · 계장 시스템/반도체 Aging 시험장치

제품소개

이 장치는 전자동으로 Burn-In처리 및 데이터의 계측, 판정, 해석을 처리하고, 온도 가속시험과 동시에 테스트 기능을 가진 반도체 Aging 시험장치 입니다.

특징

환경 제어로부터 데이터 처리까지 total 시스템을 제공
10-12암페어의 변화를 계측하는 초정밀 계측 기술
컴퓨터 기술을 구사한 완전 자동화시스템
연구실용으로부터 양산 라인까지 라인 업

기 능

사양
시험부 각종 Device에 맞추어, 전용의 피시험부품의 설치기구도 공급하며, 시험조의 구성과 크기도 Lot 크기, 점수로 맞추어 설계,제작하고 있습니다.
시험조의 온도 감시 시험 모드에 연동하여, 온도 패턴의 제어와 안정 감시를 합니다.
계측 제어 처리 Device로의 Bias인가와 전압, 전류, 광출력을 고정밀도로 실시하고, 측정값을 컴퓨터로 전송 합니다.
데이터 처리 Aging시험을 하기 위한 설정, 조작은 모두 컴퓨터를 이용하여 대화 형식으로 이루어지며, 가장 어려운 감도 조정도 컴퓨터에 의해 자동 보정이 행해집니다. 또 측정 결과는 디스크에 기억되는 것과 동시에, 해석 데이터는 CRT 에 그림, 도표로 출력할 수 있습니다.
상위 컴퓨터 통신 Aging처리에 의해 얻어지는 방대한 량의 데이터는 LAN 에 의해 상위 컴퓨터로 전송하고, 보존, 관리와 고도의 해석 처리를 할 수 있습니다.

사양

사양
광디바이스 레이저 다이오드 (단파, 장파), 포토 다이오드, 광반도체 모듈, 발광 다이오드 (LED), LED 도트 표시기, EL 표시 디바이스
전자 부품 Zener diode, 탠탈럼 콘덴서, 마이러콘덴서, IC 카드, VLSI, 트랜지스터 MOS· FET, 고주파 트랜지스터, thermistor, 페르체소자, 스위치 소자 초전도 소자, 홀 소자
기기 우주 기기, 전원 모듈